为什么硬件的静态功耗慢慢变大了,有的功能也不正常了?

技术漫谈2个月前更新 阿轩
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这两天帮一个朋友分析硬件问题,再一次遇到了神秘现象。

一款小型化的模块产品,在老化的过程中出现了一定数量的不良品,不良现象为无法通信,把主芯片更换一下会好,再换回来也没问题,初步定为为焊接不良。

然而,一次不小心,只是用风枪吹了一下模块,模块就神奇的回复正常了。

也许你也遇到过这样的情景,当你用风枪把模块吹正常后,使用了一段时间后,它又不正常了。

还有,你可能怀疑某两个引脚短路了,但无论正面反面,一番查找,也没有看到有什么黏连的地方,用万用表一测,滴的一声,待到你去看仪表屏幕时,它居然又是断开的了。

如果大家在工作中遇到这样的情况,请关注我,接下来我给大家解开这个谜题。

为什么硬件的静态功耗慢慢变大了,有的功能也不正常了?

首先,上面的现象通常会发生在多层板,高密度板中,单面板往往很少出现这样的问题。其实,这是一个典型的 CAF 问题。CAF 是什么呢?

什么是 CAF?

CAF,全称为导电性阳极丝(CAF:Conductive Anodic Filamentation), 指的是PCB内部铜离子从阳极(高电压)沿着玻纤丝间的微裂通道,向阴极(低电压)迁移过程中发生的铜与铜盐的漏电行为。

如下图片,对两个相邻的两个过孔进行纵向研磨,置于电子显微镜下放大100倍,板材呈黯淡颜色,亮金色部分则为铜,可以看到在两个过孔间,有铜点、铜丝存在。

为什么硬件的静态功耗慢慢变大了,有的功能也不正常了?

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这些铜丝非常细微,用X 光也看不到的,我们只能一层一层的研磨,然后使用显微镜来观察。

想象一下,如果你的两个相邻的过孔之间出现了一个细小的铜丝,你的电路板会发生什么情况?

如果是电源和地的过孔发生 CAF,那么你的板子的静态功耗就会变大了,能变多大取决于这根细铜丝有多粗了。

如果是两个通信引脚之间发生 CAF,那么你的通信质量将下降,神秘的现象就出现了。

为什么会出现 CAF?

我们知道,目前大部分的电子设备的基板选择的是 FR4,这种板材的中文名称更直接一些,叫玻纤板。

常规的玻纤板是由玻璃丝编制成的玻璃布,然后涂上环氧树脂半固化后制成的。如果你对这种结构没有认知,可以拉起衣服仔细看看,没错,就跟你的衣服一样,纵横交错的细线编制出来的结构。

树脂与玻纤之间的附着力不足或含浸时胶性不良,两者之间容易出现间隙,加之在钻孔等机械加工过程中,由于切向拉力及纵向冲击力的作用对树脂粘合力的进一步破坏,可能造成玻纤束被拉松或分离而出现间隙。

在高温高湿的环境下,环氧树脂与玻纤之间的附着力更加出现劣化,并促成玻纤表面硅烷偶联剂化学水解,沿着玻纤增强材料形成可供电子迁移的通路;

通俗来讲,你可以想象成盖楼房时,我们已经把钢筋骨架绑好了,现在要浇灌水泥了,浇灌的过程中存在不均匀,水泥不均匀固化不一致,挨着钢筋的地方缩水了,没有和钢筋紧密的贴合,留了一个缝隙。又或者,房子盖好了,你要在墙壁上打一个洞,钻孔的时候不小心钻到了钢筋上面,由于挤压震动,原本钢筋水泥结合完美的地方,硬生生的被你震动出一条缝隙来。

所以,在我们的 PCB 板中来看,就是环氧树脂和玻璃纤维之间出现了一条缝隙。

为什么硬件的静态功耗慢慢变大了,有的功能也不正常了?

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如上图,黄色部分的两条竖井就是我们 PCB 上面的过孔,指示的玻纤部分就是横向的玻璃纤维,纵向的在上面图中应该是一些圆点,没有画出来。

那么如果出现 CAF 现象,那会是怎么样的呢?

可以想象,沿着玻纤的轨迹,在两个过孔之间就形成了一条通道,铜离子或者同氧化物就会沿着这条通道迁移,两边同时迁移,最终在中间的某一个位置相遇相知相交,你的板子就此形成了短路。

为什么硬件的静态功耗慢慢变大了,有的功能也不正常了?

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由于导电材质的电阻热效应,如果我们试图去测量它的时候,电流产生的热量又会熔断这条相交的细丝,以至于出现开头我讲到的,用万用表测量一下就开路了。

如果我们试图去复现一下,有适合也是很困难,比如我们上电调试一下,一不小心,小细丝就被熔断了,故障现象消失。

为什么硬件的静态功耗慢慢变大了,有的功能也不正常了?

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哪些条件会触发 CAF 发生

首先,我们必须有一个通道,沿着玻纤的一条裂缝,这一点的产生,我们在上面已经讲过了。

其次,我们需要在这条裂缝的两端施加偏压,让它形成一个电势差,这样才能给铜离子的移动提供动力。

再次,铜离子迁移过程中需要再次通过化学反应变成铜,附着在玻璃纤维上形成铜膜,这就需要水或者其他可以支持反应的溶剂。

最后,我们还需要有铜的存在,不然就没有铜离子了。当然我们就那一块没有覆铜的玻璃纤维板,它也不会自己发生 CAF。

知道了以上四个触发 CAF 的必要条件后,要想阻止 CAF 发生,我们只需要阻断其中一个就可以了。

为什么硬件的静态功耗慢慢变大了,有的功能也不正常了?

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CAF 出现的位置有哪些?

为什么硬件的静态功耗慢慢变大了,有的功能也不正常了?

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CAF 最容易出现的地方就是过孔与过孔之间,因为钻孔的周围更容易出现裂缝,再加上高密度板对空间的要求,我们设计的时候往往会将两个过孔挤到一起,于是 CAF 便产生了。

为什么硬件的静态功耗慢慢变大了,有的功能也不正常了?

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如果是多层板,要小心相邻的内电层是否有可能出现 CAF 的情况,因为内电层的压层比较近,更容易导致通道的产生。

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为什么硬件的静态功耗慢慢变大了,有的功能也不正常了?

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另外,表层的线路如果离得非常近的话,也会产生 CAF 现象,这是表现为两条线之间的玻璃纤维上产生铜膜。

如何避免 CAF 的发生。

首先,我们可以想办法避免通道的产生,比如选用质地更好的板材,结实点的,不吸水的,可以选择 Tg 值高的。一般的板厂是可以选择抗 CAF 板材的。另外对于板厂的工艺也需要关注,比如钻孔的工艺,就像我们在墙上打孔一样,看手艺,大厂的设备好,工艺规范肯定一致性好,手工打孔肯定不行。

其次,裂缝两端的偏压也可以做一定的处理,当然完全避免偏压肯定没有意义,毕竟我们的是电路板,不是水泥墙,我们需要电压来使得我们的板子运行起来。 但是我们可以避免过高的偏压,这也有涉及到了我们在 Layout 时的一些注意事项,要尽量让高低压型号分开,一方面是避免高压信号影响小信号,产生串扰,另一方面也是防止过高的偏压产生 CAF。

第三,避免板子工作在有水的环境,哈哈,有点强词夺理,不过我们可以对 PCB 板进行三防涂覆,或者使用外壳来做到防水防潮,不过,一般情况下,我们很难做到完全的防潮。并且,除了高温高湿的环境,我们的板子上面还有很多助焊剂,也会在加工过程中渗透到玻纤板中。

第四,没有铜好像不行,这条先过。

还有一些其他的方式,在设计方面我们可以做以下几点:

  1. 降低过孔的密度。 毕竟这条通道裂缝的产生不会无限制的厂,往往只是一小段,尤其是过孔周围的一掉小段,只要我们拉开两个过孔,或者过孔与内层布线的距离,就可以大概率的避免这个通道的出现。
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  2. 如果有很多个引脚扇出孔,为了让过孔间距更远,那么应该交错的排列所有过孔。
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